關(guān)鍵字:PXIe 射頻芯片組測試
功能強大的碼型環(huán)化技術(shù)使工程師能夠針對單站點或多達 4 個獨立的多站點動態(tài)地創(chuàng)建碼型,利用高電壓通道和開漏引腳同時實施器件測試。工程師因此可節(jié)省寶貴的設(shè)計驗證和生產(chǎn)測試時間。
是德科技軟件和模塊化解決方案事業(yè)部市場經(jīng)理 Mario Narduzzi 表示:“我們一直積極幫助測試工程師加速設(shè)計驗證和提升生產(chǎn)測試吞吐量,經(jīng)過不懈努力,我們最終在業(yè)界率先推出了高速、靈活且具有同步多站點功能的PXIe高速數(shù)字激勵/響應(yīng)模塊。”
Keysight M9195A PXIe 數(shù)字激勵/響應(yīng)模塊提供:
串行和并行數(shù)字器件接口仿真
精確的矢量時間控制,強大的波形表功能和高達 250 ns 激勵/響應(yīng)時延補償設(shè)置以及 25 ps 可編程分辨率。
業(yè)界領(lǐng)先的每比特1 ns邊沿分辨率能力,使工程師能夠更精確地驗證器件設(shè)計
通過軟件前面板啟動數(shù)字儀器控制和碼型生成/編輯
全功能驅(qū)動程序和 IEEE-1450 STIL 編程標準或 Open XML(Excel)
提供可以加速波形碼型生成的測試開發(fā)軟件
碼型導入功能,可以導入自動測試應(yīng)用軟件創(chuàng)建的碼型