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鉭電容實(shí)效分析

 早期的鉭電容的實(shí)效主要是由兩個(gè)因素造成的:

A.極性接反引起的擊穿失效----多在研發(fā)階段由于設(shè)計(jì)和測(cè)試不當(dāng)引起,所以禁止使用萬(wàn)用表電阻檔對(duì)鉭電容器電路或其本身進(jìn)行不分極性的電阻測(cè)試。

B.一種較為隱蔽的失效----常在工作時(shí)出現(xiàn),其原因是由于焊接溫度過(guò)高,焊接持續(xù)時(shí)間過(guò)長(zhǎng),導(dǎo)致鉭電容器內(nèi)部氧化膜受傷,造成漏電流大和短路失效。

 

生產(chǎn)和和使用中鉭電容實(shí)效特征:

<!--[if !supportLists]-->        <!--[endif]-->容量較大的鉭電容器比容量較小的鉭電容器更容易失效。

<!--[if !supportLists]-->        <!--[endif]-->鉭電容器失效多發(fā)生在固定的位置,或固定的電路中,譬如電源濾波電路中。

<!--[if !supportLists]-->        <!--[endif]-->電源濾波電路中第一個(gè)鉭電容器最容易失效。

<!--[if !supportLists]-->        <!--[endif]-->在測(cè)試時(shí)的通電瞬間鉭電容器最容易失效。

<!--[if !supportLists]-->        <!--[endif]-->老化過(guò)程中容易失效。

<!--[if !supportLists]-->        <!--[endif]-->散熱較差區(qū)域的鉭電容器更容易失效。

<!--[if !supportLists]-->        <!--[endif]-->浪涌情況下鉭電容器更容易失效。

   總結(jié)上述現(xiàn)象,主要導(dǎo)致鉭電容器失效的因素:容量、溫度和浪涌。

產(chǎn)品目錄
MULTICOMP PRO
Kyet 科雅薄膜電容器
喬光電子(FTR)
采樣電阻
KINGSTATE(志豐電子)
君耀電子(Brightking)
RUBYCON電容原裝現(xiàn)貨供應(yīng)商
HAMAMATSU 濱松光電產(chǎn)品
傳感器
飛思卡爾開(kāi)發(fā)工具 Freescale
嵌入式解決方案
自動(dòng)化工業(yè)系統(tǒng)
網(wǎng)絡(luò)攝像機(jī)
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